開(kāi)放式TEM橫電波小室TBTC EMC電磁兼容輻射騷擾測(cè)試或抗擾度測(cè)試通常在電磁屏蔽室中進(jìn)行，使用天線接收輻射信號(hào)。由于帶寬限制，需要多個(gè)天線才能覆蓋整個(gè)頻率范圍。此外，屏蔽暗室需要很大的空間場(chǎng)地，并且用于標(biāo)準(zhǔn)一致性測(cè)試的設(shè)備成本很高中小型企業(yè)的工程師通常必須依靠工作經(jīng)驗(yàn)和實(shí)踐方法來(lái)設(shè)計(jì)符合EMC的產(chǎn)品。但是，據(jù)估計(jì)，有超過(guò)50％的產(chǎn)品在測(cè)試中未通過(guò)。當(dāng)新產(chǎn)品送至認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行合規(guī)性測(cè)試時(shí)，測(cè)試失敗具有非常高的成本，不僅重新測(cè)試成本，同時(shí)項(xiàng)目進(jìn)度和市場(chǎng)推廣也被推遲。 因此需要的是一個(gè)價(jià)格合理的實(shí)驗(yàn)室，可以在合規(guī)性測(cè)試之前工程師自己在實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行輻射騷擾預(yù)測(cè)試。TEM單元是用于桌面輻射騷擾測(cè)試的設(shè)備，Tekbox開(kāi)發(fā)的開(kāi)放式TEM單元，頻率覆蓋高達(dá)2GHz范圍，即使在更高的頻率（6GHz）下也具有可用性。

開(kāi)放式TEM橫電波小室TBTC

概述

     EMC電磁兼容輻射騷擾測(cè)試或抗擾度測(cè)試通常在電磁屏蔽室中進(jìn)行，使用天線接收輻射信號(hào)。由于帶寬限制，需要多個(gè)天線才能覆蓋整個(gè)頻率范圍。此外，屏蔽暗室需要很大的空間場(chǎng)地，并且用于標(biāo)準(zhǔn)一致性測(cè)試的設(shè)備成本很高。
    中小型企業(yè)的工程師通常必須依靠工作經(jīng)驗(yàn)和實(shí)踐方法來(lái)設(shè)計(jì)符合EMC的產(chǎn)品。但是，據(jù)估計(jì)，有超過(guò)50％的產(chǎn)品在測(cè)試中未通過(guò)。當(dāng)新產(chǎn)品送至認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行合規(guī)性測(cè)試時(shí)，測(cè)試失敗具有非常高的成本，不僅重新測(cè)試成本，同時(shí)項(xiàng)目進(jìn)度和市場(chǎng)推廣也被推遲。
    因此需要的是一個(gè)價(jià)格合理的實(shí)驗(yàn)室，可以在合規(guī)性測(cè)試之前工程師自己在實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行輻射騷擾預(yù)測(cè)試。TEM單元是用于桌面輻射騷擾測(cè)試的設(shè)備，Tekbox開(kāi)發(fā)的開(kāi)放式TEM單元，頻率覆蓋高達(dá)2GHz范圍，即使在更高的頻率（6GHz）下也具有可用性。
    TEM單元可與頻譜分析儀結(jié)合使用，可以對(duì)產(chǎn)品EMC相關(guān)的設(shè)計(jì)修改前后對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行驗(yàn)證測(cè)試。TEM Cell裝置無(wú)法得到與經(jīng)過(guò)認(rèn)證的實(shí)驗(yàn)室測(cè)量相同的測(cè)量結(jié)果，但是它能很好的表明產(chǎn)品設(shè)計(jì)是否有輻射騷擾，工程師將清楚地看到輻射情況，它所做的是產(chǎn)品更改是否改善了EMC性能，或者它是否保持不變。使用TEM單元消除了對(duì)產(chǎn)品輻射騷擾的猜測(cè)。

TEM單元是用于電子設(shè)備的輻射發(fā)射和抗擾度測(cè)試的帶狀線設(shè)備。由于其尺寸和成本，它不是認(rèn)證測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的替代品，它是在實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行測(cè)量的便捷替代方法。

TEM單元由隔板，中間部分的導(dǎo)電條和接地的壁組成。呈現(xiàn)為幾何形狀設(shè)計(jì)的50Ω帶狀線。被測(cè)設(shè)備（DUT）放置在底壁和隔板之間。

TBTC1 / 2/3是開(kāi)放式TEM單元，它沒(méi)有側(cè)壁，便于放置DUT。沒(méi)有側(cè)壁可能會(huì)拾取環(huán)境背景噪聲，但是可以通過(guò)在DUT上電之前對(duì)單元輸出信號(hào)進(jìn)行測(cè)量環(huán)境噪音來(lái)將其考慮在內(nèi)。

TEM Cell用于EMC一致性預(yù)測(cè)試---輻射抗擾度

抗擾度測(cè)試由射頻信號(hào)發(fā)生器輸出經(jīng)射頻放大器后連接TEM單元，隔板將射頻信號(hào)輻射到DUT中，射頻信號(hào)通常是調(diào)幅（AM）或脈沖調(diào)制

與同等尺寸標(biāo)準(zhǔn)TEM單元相比，Tekbox開(kāi)放式TEM單元具有更好的頻率響應(yīng)。TEM單元的高階波模式的限制可用帶寬。Tekbox TEM單元的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了垂直于所需波傳播方向的電阻。因此，高階波和共振被抑制。
   所有TEM單元都提供50Ω/25W射頻終端負(fù)載和直流塊，用于保護(hù)頻譜分析儀或接收機(jī)輸入

抗擾度完整解決方案

頻譜分析儀：可以使用普源DSA815、鼎陽(yáng)SSA3021X，VSA6G2A或其他品牌，也可使用二手頻譜儀（如N9020A）

射頻功率放大器：我們Tekbox提供了一系列調(diào)制功率放大器，非常適合進(jìn)行低成本的抗擾度測(cè)試。如：TBMDA1(40M-3G)、TBHDR1(30K-1.5G)等。這些放大器內(nèi)置調(diào)制器以生成所需的調(diào)制格式，由頻譜分析儀的跟蹤源輸出驅(qū)動(dòng)，因此可以不投資RF信號(hào)發(fā)生器.

根據(jù)選擇的調(diào)制信號(hào)放大器以及TEM單元，通過(guò)這種設(shè)置可以產(chǎn)生高達(dá)幾百伏的場(chǎng)強(qiáng)，更多信息請(qǐng)參

考調(diào)制放大器的數(shù)據(jù)表。

考慮到電場(chǎng)與隔板正交，要考慮DUT測(cè)試最壞的情況，請(qǐng)將其定位在TEM單元內(nèi)，使PCB跡線垂直與隔

板方向，使其暴露場(chǎng)強(qiáng)下.

TBTC0 ,場(chǎng)強(qiáng)與射頻功率

TBTC1 ,場(chǎng)強(qiáng)與射頻功率

TBTC2 ,場(chǎng)強(qiáng)與射頻功率

TBTC3 ,場(chǎng)強(qiáng)與射頻功率

TEM Cell用于EMC一致性預(yù)測(cè)試---輻射騷擾

TEM單元與頻譜分析儀或接收機(jī)配合使用，可以對(duì)產(chǎn)品EMC相關(guān)整改前后對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證，工程師可以清楚的看到整改效果.

技術(shù)指標(biāo)