高精度菲希爾半導(dǎo)體雙探測(cè)器膜厚測(cè)試儀。此儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測(cè)量，而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測(cè)量

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