深圳市奔藍科技有限公司
主營產品:美國CalMetrics / UPA鍍層標準片、RoHS標準片,美國精密玻璃刻度菲林尺、美國milum英國牛津PCB孔/面銅測厚儀、儀器鍍層測厚儀、日本共立Kyouristu簡易水質離子測定器及水質分 ... |
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主營產品:美國CalMetrics / UPA鍍層標準片、RoHS標準片,美國精密玻璃刻度菲林尺、美國milum英國牛津PCB孔/面銅測厚儀、儀器鍍層測厚儀、日本共立Kyouristu簡易水質離子測定器及水質分 ... |
參考價 | 面議 |
美國博曼BA-100電鍍測厚儀
美國博曼膜厚儀性能,可測量任一測量點,zui小可達0.025 x 0.051毫米。能夠測量包
含原子序號13至92的典型元素的電鍍層,鍍層,表膜和液體,極薄的浸液鍍層(
銀,金,鈀,錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成
份百分含量可同時測定zui多5層,15 種元素。 精確度于世界,精確到
0.025um (相對與標準片)
數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析
報告格式要求 ;如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表,測定位置的圖象,CAD文件等
。 統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值,誤差分析,zui大值,zui小值,數(shù)據(jù)變動范圍,相
對偏差,UCL(控制上限),LCL(控制下限),CpK圖,直方圖,X-bar/R圖等多種
數(shù)據(jù)分析模式。 X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;
膜厚儀操作 WINWIF系統(tǒng),WIN系統(tǒng)及FIM系統(tǒng),其用于微電子器件,數(shù)據(jù)
偶合器,光通訊和數(shù)據(jù)貯存,半導體,光通訊,微電子,光子學,無源器件和
薄層磁頭金屬化分析等。
:劉振東 136 40948714 :
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