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深圳市奔藍(lán)科技有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品：美國(guó)CalMetrics / UPA鍍層標(biāo)準(zhǔn)片、RoHS標(biāo)準(zhǔn)片，美國(guó)精密玻璃刻度菲林尺、美國(guó)milum英國(guó)牛津PCB孔/面銅測(cè)厚儀、儀器鍍層測(cè)厚儀、日本共立Kyouristu簡(jiǎn)易水質(zhì)離子測(cè)定器及水質(zhì)分 ... |
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深圳市奔藍(lán)科技有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品：美國(guó)CalMetrics / UPA鍍層標(biāo)準(zhǔn)片、RoHS標(biāo)準(zhǔn)片，美國(guó)精密玻璃刻度菲林尺、美國(guó)milum英國(guó)牛津PCB孔/面銅測(cè)厚儀、儀器鍍層測(cè)厚儀、日本共立Kyouristu簡(jiǎn)易水質(zhì)離子測(cè)定器及水質(zhì)分 ... |
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更新時(shí)間：2015-06-23 12:20:46瀏覽次數(shù)：484
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SCS Ionogragh 離子污染測(cè)試儀動(dòng)態(tài)測(cè)試系列分為：
SCS Ionogragh SMD II離子污染測(cè)試儀(立地型)
SCS Ionogragh SMD IV離子污染測(cè)試儀(立地型)
SCS Ionogragh 500 BT SP離子污染測(cè)試儀（桌上型）
SCS Ionogragh 500S BT MP離子污染測(cè)試儀（桌上型）
SCS Ionogragh 500BT LP離子污染測(cè)試儀（桌上型）
SCS Ionogragh SMD IV離子污染測(cè)試儀
1、型號(hào)： Ionograph SMD IV
2、測(cè)試槽尺寸： 18"*20"(cm:45.7*50.8)
20"*26"(cm:50.8*66)
3、測(cè)試液用量：7-12gal(26.5-45.5L)
4、尺寸： 長(zhǎng) 110cm* 寬58.5cm * 高 97.8cm
5、重量： 157kg
6、功能：
特別適用于微量離子污染測(cè)試(適用載板廠)，動(dòng)態(tài)測(cè)試使其更為精準(zhǔn)。
Ionograph SMD IV采用高純度的測(cè)試液作為萃取媒介,并利用動(dòng)態(tài)檢測(cè)方法,對(duì)各種無(wú)鉛制程進(jìn)行快速而無(wú)破壞性的離子污染檢測(cè)。
Ionograph SMD IV是業(yè)界配備藍(lán)芽技術(shù)的離子污染測(cè)試系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)短距離無(wú)線通訊。
SCS Ionogragh SMD II離子污染測(cè)試儀
1、型號(hào)： Ionograph SMD II
2、測(cè)試槽尺寸: 18"*20"(cm:45.7*50.8)
20"*26"(cm:50.8*66)
26"*30"(cm:66*76.2)
26"*38"(cm:66*96.5)
3、測(cè)試液用量：7-17.1gal(26.5-64.8L)
4、尺寸： 長(zhǎng) 110cm* 寬58.5cm * 高 97.8cm
5、重量： 108kg
SCS Ionogragh 500M離子污染測(cè)試儀桌上型系列有三種型號(hào)：
1、型號(hào):500MSP （Small Parts Test Module ）
2、測(cè)試槽尺寸：6"×6"(cm:15.2*15.2)
3、測(cè)試液用量：0.8gal (2.8L)
4、尺寸： 長(zhǎng) 61cm * 寬69.9cm * 高 48.2cm
5、重量： 29kg（請(qǐng)致電：136 4094 8714 劉振東）
適用于IC等小型零件產(chǎn)品的精密測(cè)試。
可以精確量測(cè)IC載板的離子污染
1、型號(hào)：500M STD （Standard Test Module ）
2、測(cè)試槽尺寸：12"×14"(cm:30.5*35.5)
3、測(cè)試液用量：2.7gal (10.2L)
4、尺寸： 長(zhǎng) 61cm * 寬69.9cm * 高 48.2cm
5、重量： 34kg
適用于普通電路板及組裝后的精密測(cè)試。
可以精確量測(cè)IC載板的離子污染
1、型號(hào)： 500MLP （Multi-Use Test Module）
2、測(cè)試槽尺寸：14"×20"(cm:35.3*50.8)
3、測(cè)試液用量：5gal (18.9L)
4、尺寸： 長(zhǎng) 61cm * 寬69.9cm * 高 76.2cm
5、重量： 34kg
適用于量測(cè)較大尺寸的印刷電路板之離子污染。
