TBPS01近場探頭DC-6GHz

 TH20，H10，H5和E5是磁場（H）和電場（E）探頭，用于輻射發(fā)射EMC預(yù)一致性測量。探頭用于電磁輻射源的近場。

它們用于在電子組件的構(gòu)造塊中定位和識別潛在的干擾源。這些探針的作用類似于寬帶天線，用于拾取組件，PCB跡線，外殼開口或縫隙以及可能發(fā)射射頻的任何其他部件的輻射。探頭通常連接到頻譜分析儀。在PCB組件或外殼的表面上掃描探針可以快速確定發(fā)出電磁輻射的位置。通過更換為較小尺寸的探頭，可以進一步縮小發(fā)射源的范圍。

其他應(yīng)用是通過將RF信號饋入探頭并將其輻射到潛在敏感的電路部分中來進行RF抗擾度測試：此外，探頭可用于維修或調(diào)試領(lǐng)域，以通過減少接觸式RF測量來跟蹤RF信號鏈中的問題，信號電平。另一種應(yīng)用是對射頻構(gòu)件（例如調(diào)制器或振蕩器）的非接觸測量。可以結(jié)合低噪音前置放大器測量頻率，相位噪聲和頻譜分量。

TBWA2/20dB 和 TBWA2/40db 寬帶放大器連接在 EMC 探頭和頻譜分析儀之間，以增加測量的動態(tài)范圍

特點：

頻率范圍高達6GHz

纖薄的設(shè)計便于進行緊密相隔器件之間的測量

屏蔽回路可避免拾取共模噪音，對人手不敏感

SMB連接器可避免在掃描DUT時扭曲RF線纜

絕緣橡膠涂層

可選具有20dB和40dB增益的寬帶放大器

探頭尺寸：

選件寬帶放大器：

TBWA2/20dB：48mm x 63mm x 20mm ；  

TBWA2/40dB：48mm x 63mm x 20mm