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銷售顯微分光膜厚儀報價

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產(chǎn)品型號OPTM 系列

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地上海市

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更新時間：2024-04-20 01:16:51瀏覽次數(shù)：130次

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上海波銘科學儀器有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：120條

所在地區(qū)：上海上海市

聯(lián)系人：呂志杰

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產(chǎn)品簡介

OPTM 系列顯微分光膜厚儀測量項目：? 絕*反射率測量? 多層膜解析? 光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）

詳細介紹

• 使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過*對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數(shù)分析。

• 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學常數(shù)的軟件。

• 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能

• 通過顯微光譜法測量高精度*對反射率（多層膜厚度，光學常數(shù)）

• 1點1秒高速測量

• 顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅外）

• 區(qū)域傳感器的安全機制

• 易于分析向?qū)?，初學者也能夠進行光學常數(shù)分析

• 獨立測量頭對應各種inline客制化需求

• 支持各種自定義

測量項目：

• *對反射率測量

• 多層膜解析

• 光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）

OPTM 系列顯微分光膜厚儀