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日商精密光學(xué)AF?微米級深度高度測量儀AFM-30

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產(chǎn)品型號AFM-30

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更新時間：2024-10-09 08:58:42瀏覽次數(shù)：66次

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深圳市秋山貿(mào)易有限公司

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所在地區(qū)：廣東深圳市

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產(chǎn)品簡介

1.是結(jié)合了光切斷的狹縫圖像觀察和點(diǎn)光圖像的AF(自動對焦)追蹤的新型深度高度測量機(jī)。2.通過連續(xù)追蹤AF驅(qū)動，可實(shí)現(xiàn)高精度重復(fù)測量，操作性好，速度快。3。由于是一邊觀察狹縫圖像映射出的臺階形狀一邊進(jìn)行測量的方式，因此可以實(shí)時識別測量畫面上的高低，可以容易地判斷需要測量的部位。4.測定點(diǎn)處的狹縫圖像·點(diǎn)光像·電子線基準(zhǔn)線的中心全部一致的測量系統(tǒng)，通過檢查偏差，可以防止用錯誤的數(shù)值進(jìn)行測量。5.光切斷的仰角除了標(biāo)準(zhǔn)的90°外，還可以根據(jù)用途選擇導(dǎo)入30°60°120°。

詳細(xì)介紹

主要規(guī)格

観察方法

光切斷方式(利用狹縫光學(xué)系統(tǒng)測定深度高度)

■物鏡

固定倍率10倍(5倍、20倍)

軸駆動方式

基于點(diǎn)光的AF連續(xù)追蹤方式(離線時可手動測量)

投射縫隙

10um半反光鏡型

Z軸測量

Z軸數(shù)字線性儀表0.1閱讀