型號：JW-T系列　 　 產(chǎn)地：上海

• 技術參數(shù)

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  型號： JW-T系列恒溫恒溫試驗機箱技術參數(shù)
  
  

  型號		JW-80T	JW-120T	JW-150T	JW-225T	JW-408T	JW-800T	JW-1000T
  溫度范圍		-20℃～150℃
  濕度范圍		20%～98%RH
  溫度均勻度		±1℃					±2℃
  濕度均勻度		±3%					±5%
  溫度精度		±0.5℃
  濕度精度		±2.5%RH
  升溫時間		-20℃～100℃約需35分鐘
  降溫時間		20℃～-20℃約需40分鐘
  內(nèi)箱尺寸（㎝）	W	40	50	50	50	60	100	100
  	H	50	60	60	75	85	100	100
  	D	40	40	50	60	80	80	100
  外箱尺寸（㎝）	W	92	102	102	102	112	152	152
  	H	160	170	170	185	195	205	205
  	D	87	97	87	107	127	127	147
  結構材質		內(nèi)箱：SUS＃304鏡面銹鋼 外箱：SUS＃304不銹鋼、精美噴塑
  冷凍系統(tǒng)		單段風冷式歐美裝進口封閉壓縮機、環(huán)保開型冷媒HC
  加熱加濕系統(tǒng)		加熱：不銹鋼片式加熱管加濕方式 加濕：不銹鋼套式電熱蒸氣發(fā)生方式
  安全保護裝置		壓縮機過熱、過溜、超壓、加熱、加濕干燒、箱內(nèi)超溫、水箱缺水警報系統(tǒng)
  標準配件		觀視窗、測試孔ф50×7只、樣品架2套、照明燈7套
  功率（KW）		2.5	3.2	4	5.6	6.5	8	9
  電源		1ф22VAC±10%/3P80VCA±10%

• 主要特點
• 箱體結構：
  1、箱體采用數(shù)控機床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。
  2、箱體內(nèi)膽采用進口高級不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體外膽采用A3鋼板噴塑，增加了外觀質感和潔凈度。
  3、補水箱置于控制箱體右下部，并有缺水自動保護，更便利操作者補充水源。
  4、大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。
  5、加濕系統(tǒng)管路與控制線路板分開，可避免因加濕管路漏水發(fā)生故障，提高安全性。
  6、水路系統(tǒng)管路電路系統(tǒng)則采用門式開啟，方便維護和檢修。
  7、門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條以確保測試區(qū)的密閉。
  8、箱體左側配直徑30mm或50mm或100mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。（孔徑或孔數(shù)須增加定貨時說明）。機器底部采用高品質可固定式PU活動輪。
   
  控制系統(tǒng)：
  1、溫濕度控制儀表采用“韓國”全進口超大屏幕畫面（5.7寸LED顯示器），熒幕操作簡單，程式編輯容易，無須按鍵輸入，屏幕直接觸摸選項。
  2、控制器操作界面設中英文可供選擇，實時運轉曲線圖可由屏幕顯示。
  3、具有100組程式1000段999循環(huán)步驟的容量，每段時間設定zui大值為99小時59分。
  4、資料及試驗條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機。
  5、具有RS-232或RS-485通訊界面，可在電腦上設計程式，監(jiān)視試驗過程并執(zhí)行自動開關機等功能。
  6、具有自動演算的功能，可將溫濕度變化條件立即修正，使溫濕度控制更為精確穩(wěn)定。
  制冷系統(tǒng)：
  1、升溫、降溫、加濕系統(tǒng)*獨立可提高效率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。
  2、冷機采用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機組。冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設計。 3、美國多翼式送風機強力送風循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。
  4、風路循環(huán)出風回風設計，風壓風速均符合測試標準，并可使開門瞬間溫濕度回穩(wěn)時間快。

• 儀器介紹
• 高低交變溫濕熱試驗箱|恒溫恒濕試驗箱系列產(chǎn)品【上海巨為儀器設備有限公司制造】----附樣本資料
  產(chǎn)品用途：該系列產(chǎn)品適用于航空航天產(chǎn)品，信息電子儀器儀表，材料，電式，電子產(chǎn)品，各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下，檢驗其各性能指標。
  符合標準：GB/T2423.1-2001 GB/T2423.2-2001 GB/T2423.3-1993 .......

• 分析方法
• 此儀器尚未上傳分析方法

• 相關資料
• [下載樣本]
  1.GB/T 2423.22－2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗
  2.GB/T 2423.5－1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法
  3.GB/T 2423.4-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db
  4.GB/T 2423.3－2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法
  5.GB/T 2423.2－2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法B高溫
  6.GB/T 2423.1－2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試
  7.GB/T 2422－1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 術語
  8.GB/T 2421－1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分：總則
  9.GB/T 2424.2－2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 濕熱試驗導則
  10.GB/T 2424.1－2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高溫低溫試驗導則
  11.GB/T 2423.50－1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗
  12.GB/T 2423.36－2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗
  13.GB/T 2423.35－2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法
  14.GB/T 2423.27－2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗
  15.GB/T 2423.26－1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗z/BM：
  16.GB/T 2423.25－1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM：