電鍍測厚儀，鍍層厚度測量儀，膜厚測量儀采用真正的基本參數(shù)原理（FP）來測量厚度，

電鍍測厚儀，鍍層厚度測量儀，膜厚測量儀標(biāo)配WinFTM?V.6 LIGHT 軟件是儀器的基本操作
軟件，此軟件可以同時間測量zui多至四層鍍
層、或是進(jìn)行多至5元素的合金分析、又或是
zui多測量兩個正離子的藥水濃度測量分析。
?電鍍測厚儀，鍍層厚度測量儀，膜厚測量儀，是用于鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。測量方向從上往下。  的特色是獨(dú)特的距離修正方法。DCM方法（距離控制測量）自動地修正在不同的測量距離上光譜強(qiáng)度的差別。對於XDL?-B 帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在複雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實(shí)現(xiàn)簡便測量的可能性。在加強(qiáng)的軟件功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下，一樣精準(zhǔn)測量。
典型的應(yīng)用範(fàn)圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。 ：王生：   ：  www.kinglinhk.com  地址：寶安中心區(qū)宏發(fā)中心大廈