產(chǎn)品展示
fischer PMP10膜厚儀
【簡單介紹】
【詳細說明】
fischer PMP10膜厚儀使用相位感度電渦流方法是根據(jù)草擬中的ISO/DIS21968規(guī)格所制造的,比較傳統(tǒng)的電渦流DIN EN ISO 2360的測量方法,這種測量方法在測量金屬鍍層厚度方面有明顯的好處。
PHASCOPE PMP10膜厚儀,可選配測量探頭,其探頭及功能分為以下幾種:
ESD20Cu可測量非鐵性金屬,如銅、鋁、黃銅等在非導電性材料上的鍍層厚度。
ESD20Zn可測量鋅、銅、鋁等在鋼或鐵上的鍍層厚度,特別適合測量粗糙的表面。也可測量非鐵性高導電率鍍層在非鐵性低導電率材料上的厚度,如銅/黃銅。
ESD20Ni可測量化學鎳在鋼或鐵上的鍍層厚度。
1-50μm(0.04-2mils)選用240KHZ
2-100μm(0.08-4mils)選用60KHZ
fischer PMP10膜厚儀ESD2.4可測量鋅在細小的鋼零件上的鍍層厚度.因為它的細小測量面積及相位感應電渦流測量法的好處.不同的工件形狀也不需要特別的校正.
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