fisher電鍍膜厚儀可滿足所有鍍層厚度測量需求的雙檢測器型鍍層測量儀，實現(xiàn)了超微小面積，高精度無損測量。能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能*,而且價錢*.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調(diào)整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的*.可測量各類金屬層、合金層厚度.可測元素范圍：鈦（Ti） –鈾（U）可測量厚度范圍：原子序22-92，0.1-0.8μm    fisher電鍍膜厚儀,能夠測量極精密的樣品，如：微形部件或線路板上極微細的表面結(jié)構(gòu)，它的新穎X－射線光學鏡片，創(chuàng)新的X-射線光學原理，使這部儀器能產(chǎn)生非常小，但高輻射強度的測量點，所以，測量數(shù)十微米的面積的結(jié)構(gòu)也變成可能。配備了半導體接收器適合測量薄到數(shù)NM的鍍層.fisher膜厚儀極適合對一些較小的樣板進行測量，尤其是對手表、端子、小螺絲、螺絲帽、珠寶，連接器，一些電氣產(chǎn)品中的小五金零件等等，操作員只需將測試面朝下，不論大小的樣品可直接放進測量室內(nèi)，不用調(diào)距離，只需對準位置，便可立即測量，這不單可以令測量更快速，還可以避免因在調(diào)校測量距離錯誤時影響計算厚度。      fisher電鍍膜厚儀遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497標準，主要基于WinFTM? V6L核心控制軟件的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。采用全新數(shù)學計算方法,采用的FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco Controlled Measurement）及強大的電腦功能來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較復雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。歡迎隨時或親臨我司測試及參觀!!! 如有任何問題請：王生:133 1655 7996