膜厚測量儀，鍍層厚度檢測儀，金屬膜厚儀快速無損地分析珠寶首飾、貴金屬而設(shè)計。這些首飾和貴金屬包括黃白金，鉑和銀，銠，硬幣以及所有的首飾合金和鍍層。 可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
zui多24種鍍層（使用WinFTM? V.6軟件）。
鍍層厚度測量儀，金屬膜厚儀分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素  膜厚測量儀，鍍層厚度檢測儀，是一款可靠的采用X-射線熒光方法和*的微聚焦X-射線光學(xué)方法來測量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測量系統(tǒng)。
    它的出現(xiàn)解決了分析和測量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰(zhàn)。這種創(chuàng)新技術(shù)的，目前正在申請的X-射線光學(xué)可以使得在很小的測量面積上產(chǎn)生很大的輻射強度，這就可以在小到幾?reg;微米的結(jié)構(gòu)上進行測量。

     在經(jīng)濟上遠遠優(yōu)于多元毛細(xì)透鏡的Fischer專有X-射線光學(xué)設(shè)計使得能夠在非常精細(xì)的結(jié)構(gòu)上進行厚度測量和成分分析。XDVM-μ可以勝任測量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結(jié)構(gòu)。

     具有強大功能的X-射線XDVM-μ帶WinFTM? V6 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。有需要的有友請希望我們能成為*的合作伙伴
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